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電子電工儀器

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數(shù)字式四探針測試儀

SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測

試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以

測量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散

層的薄層電阻進(jìn)行測量，可以從10-6--105Ω—cm全

量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電

阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。

產(chǎn)品型號(hào)：SZT-2000
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2018-10-10
瀏覽次數(shù)：377

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聯(lián)系電話：18980874109

產(chǎn)品詳情

數(shù)字式四探針測試儀

型號(hào)：SZT-2000

儀器資料：

SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測

試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以

測量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散

層的薄層電阻進(jìn)行測量，可以從10-6--105Ω—cm全

量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電

阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。

儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測試架兩大部分，

用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺(tái)或者

工作臺(tái)上，測試架由探頭及壓力傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、樣品架

組成，耐磨和使用壽命長的特點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧

壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測試架設(shè)有手

動(dòng)和電動(dòng)兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)

定的恒流源組成，測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器

有自校量程，可以方便地對(duì)儀器的電氣性能進(jìn)行校

驗(yàn)。

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量

范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)，儀器適用于

半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究部門、高等院

校，對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

儀器主要技術(shù)指標(biāo)：

1．范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴(kuò)展至105

Ω—cm，分辯率為10-6Ω—cm

方塊電阻10-3—103Ω/□

電阻10-6—105Ω

2．可測半導(dǎo)體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．測量方式：軸向、斷面均可（手動(dòng)測試架）

4．?dāng)?shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、

200mV、2V

（2）測量*.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）

2mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）

（3）輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω

20mV檔以上>108Ω

（4）顯示31/2位數(shù)字顯示，0—1999

具有極性和過載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示

5．恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA

連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給

（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

五檔

（3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）

6．四探針測試探頭（1）探頭間距：1mm（2）

探針機(jī)械游率：±0.3%

（3）探針：Φ0.5mm（4）壓

力：可調(diào)

7.測試架：

（1）手動(dòng)測試架：探頭上升及下降由手動(dòng)操

作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

（2）電動(dòng)測試架：探頭的上升和下降由電動(dòng)操

作，設(shè)有自動(dòng)控制器控制，探頭上升時(shí)間1S—99S

可調(diào)，探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)

（由砝碼來設(shè)定）同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開

關(guān)控制探頭上下運(yùn)動(dòng)。

8.電流：220V±10%50HZ或60HZ：功率消耗

<35W

9．外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

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